Дифрактометры серии XD

Прибор внесен в Госреестр СИ. Номер в Госреестре - 91476-24. Ссылка на запись в Федеральном информационном фонде единства измерений

Предлагаем вашему вниманию рентгеновские порошковые дифрактометры серии XD, предназначенные для фазового анализа поликристаллических образцов. Дифрактометры серии XD позволяют определять качественный и количественный фазовый состав образцов, состояния твердого тела (кристаллическое, аморфное, аморфное с кристаллическими включениями), изучать строение, структуру и свойства химических соединений, материалов, готовых изделий.

Рентгеновские дифрактометры серии XD могут быть использованы как для решения научно-исследовательских задач — изучения параметров кристаллической структуры (параметров элементарной ячейки, степени кристалличности, коэффициента температурного расширения, микро- и макронапряжений, и т.д.), так и прикладных задач — входного контроля исходного сырья, готовой продукции, контроля качества производственного процесса.

Преимущества дифрактометров серии XD

Гониометр вертикального типа

• Простая установка/замена кюветы с образцом на гониометре, образец располагается горизонтально, что практически полностью исключает возможное просыпание порошкового образца на предметный  столик, потерю образца, попадание частичек пробы внутрь гониометра и засорение движущихся частей двигателя гониометра.
• Возможность съемки мелкодисперсных сыпучих порошков, золей, гелей, жидких образцов, содержащих кристаллические вещества.
• Оптимальная конструкция для установки дополнительных приставок и коммуникаций (инертных газов, хладогента).

Высокоточный гониометр

• Порошковые дифрактометры серии XD оснащены гониометрами, характеризующимся высокой точностью измерения и воспроизводимостью установки угла, минимальным шагом сканирования 0.0001° (модель XD-6).

Источник излучения

• Стеклянные и керамические рентгеновские трубки с максимальной мощностью 2.2 кВ,
• Широкий выбор материала анода (Cu, Mo, Fe, Co, Cr, W, Ag).

Дополнительные принадлежности

•  Изогнутый графитовый кристалл монохроматор, устройство для запрессовки порошковых образцов, приставка для многофункциональных измерений (построение полюсных фигур, измерения напряжений, валовый количественный анализ), приставки для измерения в широком температурном диапазоне от -190 °С до +800 °С, шестипозиционный держатель образцов, приставка для измерения волокон, тонких пленок, образцов под давлением, Ф-сканирования, измерение остаточных напряжений.

Система замкнутого водяного охлаждения

Применение

•  Метод порошковой рентгеновской дифрактометрии нашел широкое применение в различных областях исследования благодаря ряду преимуществ. Для проведения исследования требуется небольшое количество образца, отсутствует необходимость выращивания монокристаллов. С помощью дифрактометрии возможно различать разные модификации одного и того же химического соединения. Метод является неразрушающим, после проведения анализа образец сохраняется в неизменном виде и может быть использован для дальнейшего изучения.